发明名称 Röntgenaufnahmesystem zur Röntgenbildgebung bei hohen Bildfrequenzen eines Untersuchungsobjekts mittels direkter Messung des Interferenzmusters
摘要 Die Erfindung betrifft ein Röntgenaufnahmesystem zur Röntgenbildgebung eines Untersuchungsobjekts (6) mittels direkter Messung eines Interferenzmusters (18), insbesondere zur differentiellen echtzeitfähigen Phasenkontrast-Bildgebung, mit zumindest einem Röntgenstrahler (3) zur Erzeugung von quasi-kohärenter Röntgenstrahlung, einem Röntgenbilddetektor (4), der eine Detektorschicht (21) und in einer Matrix angeordnete Detektorpixel (22) aufweist, einem Beugungs- oder Phasengitter (17), welches zwischen dem Untersuchungsobjekt (6) und dem Röntgenbilddetektor (4) angeordnet ist und ein Interferenzmuster (18) erzeugt, das in der n-ten Talbotordnung direkt durch einen Röntgenbilddetektor (4) mit einer sehr hohen erreichbaren Ortsauflösung erfasst wird, die wenigstens der halben Wellenlänge des in der n-ten Talbotordnung entstehenden Interferenzmusters (18) gemäß dem Nyquist-Theorem beträgt.
申请公布号 DE102013205406(A1) 申请公布日期 2014.10.16
申请号 DE201310205406 申请日期 2013.03.27
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BERNHARDT, PHILIPP;SPAHN, MARTIN
分类号 A61B6/03;G01N23/04;G01T1/20;H05G1/02 主分类号 A61B6/03
代理机构 代理人
主权项
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