| 发明名称 | 一种电子分析天平微量加载与漂移判别方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种电子分析天平微量加载与漂移判别方法，以解决电子分析天平微量加载与漂移的技术难点。该发明包括如下步骤：a)对温度传感器输出的温度数据进行补偿；b)利用补偿后的温度数据对零点漂移量和灵敏度系数进行校正；c)利用质量采样数据、零点漂移量和灵敏度系数计算质量；d)根据质量的变化速率对微量加载和漂移进行判别。本发明方法可以快速区分漂移与加载。 | ||
| 申请公布号 | CN104101418A | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
| 申请号 | CN201410289022.4 | 申请日期 | 2014.06.24 |
| 申请人 | 湖南大学 | 发明人 | 滕召胜;黄强;唐享;蒋婷;任亚奇 |
| 分类号 | G01G23/01(2006.01)I | 主分类号 | G01G23/01(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人 | 汤东凤 |
| 主权项 | 一种电子分析天平微量加载与漂移判别方法，其特征在于，包括以下步骤：a)对温度传感器输出的温度数据进行补偿；b)利用补偿的温度数据对零点漂移量和灵敏度系数进行校正；c)利用采样数据、零点漂移量和灵敏度系数计算质量；d)根据质量的变化速率对微量加载和漂移进行判别。 | ||
| 地址 | 410082 湖南省长沙市岳麓区麓山南路麓山门 | ||