发明名称 气密地密封的检孔仪探测器顶端
摘要 本发明涉及气密地密封的检孔仪探测器顶端。一种用于检查区域的光学系统,包括光学壳体和容纳在光学壳体内的光学元件。光学壳体容纳一个或多个光学纤维。容纳在光学壳体内的光学元件使光集中到一个或多个光学纤维上。密封部件相对于光学壳体而密封光学元件。密封部件包括固化的玻璃熔块材料。在一个示例中,密封部件环形地设置在光学壳体与光学元件之间。还提供了形成光学系统的方法。
申请公布号 CN104102005A 申请公布日期 2014.10.15
申请号 CN201410135075.0 申请日期 2014.04.04
申请人 通用电气公司 发明人 M.K.比诺;E.C.希菲尔
分类号 G02B27/00(2006.01)I;G01V8/10(2006.01)I 主分类号 G02B27/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 肖日松;严志军
主权项  一种用于检查区域的光学系统,所述光学系统包括:光学壳体,所述光学壳体构造成容纳一个或多个光学纤维;光学元件,所述光学元件容纳在所述光学壳体内,用于使光集中到所述一个或多个光学纤维上;以及密封部件,所述密封部件构造成相对于所述光学壳体而密封所述光学元件,所述密封部件包括固化的玻璃熔块材料。
地址 美国纽约州