发明名称 |
气密地密封的检孔仪探测器顶端 |
摘要 |
本发明涉及气密地密封的检孔仪探测器顶端。一种用于检查区域的光学系统,包括光学壳体和容纳在光学壳体内的光学元件。光学壳体容纳一个或多个光学纤维。容纳在光学壳体内的光学元件使光集中到一个或多个光学纤维上。密封部件相对于光学壳体而密封光学元件。密封部件包括固化的玻璃熔块材料。在一个示例中,密封部件环形地设置在光学壳体与光学元件之间。还提供了形成光学系统的方法。 |
申请公布号 |
CN104102005A |
申请公布日期 |
2014.10.15 |
申请号 |
CN201410135075.0 |
申请日期 |
2014.04.04 |
申请人 |
通用电气公司 |
发明人 |
M.K.比诺;E.C.希菲尔 |
分类号 |
G02B27/00(2006.01)I;G01V8/10(2006.01)I |
主分类号 |
G02B27/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
肖日松;严志军 |
主权项 |
一种用于检查区域的光学系统,所述光学系统包括:光学壳体,所述光学壳体构造成容纳一个或多个光学纤维;光学元件,所述光学元件容纳在所述光学壳体内,用于使光集中到所述一个或多个光学纤维上;以及密封部件,所述密封部件构造成相对于所述光学壳体而密封所述光学元件,所述密封部件包括固化的玻璃熔块材料。 |
地址 |
美国纽约州 |