发明名称 | 半导体封装体 | ||
摘要 | 一种半导体封装体,挠曲或变形小,且不使制造工艺复杂化的情况下在部件之间形成接合层,并具有良好的气密性。在接合用于构成半导体封装体的部件之间时,通过使用含有98重量%以上的熔点为400℃以上的银等一种金属元素的接合层,在抑制部件挠曲或变形的温度范围内进行接合,接合后得到较高熔点,同时各部件构成为,各接合层的接合面、即各部件的相应面均形成平行的面,从而使各接合层的厚度方向均为相同方向,以使形成接合层时的加压方向与层叠各部件的方向一致。 | ||
申请公布号 | CN104103599A | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
申请号 | CN201410058298.1 | 申请日期 | 2014.02.20 |
申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 高木一考 |
分类号 | H01L23/10(2006.01)I | 主分类号 | H01L23/10(2006.01)I |
代理机构 | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人 | 姜虎;陈英俊 |
主权项 | 一种半导体封装体,其特征在于,具备:平板状基板,其上表面具有用于固定半导体装置的固定区域;陶瓷框体,由平面状的上下两层陶瓷框架构成,在下层陶瓷框架的上表面上形成有布线图案,在上层陶瓷框架中相当于所述布线图案两端的部分,其框架宽度比所述下层陶瓷框架窄,以使所述布线图案的两端露出而用作端子,该陶瓷框体以围住所述固定区域的方式层叠于所述基板的上表面,其一侧的开口面通过第一接合层接合在所述基板的上表面上;金属环,具有与所述陶瓷框体的另一侧开口面处的框体形状相对应的形状,被层叠在所述陶瓷框体的另一侧开口面上,并通过第二接合层接合在该陶瓷框体上;导线,被层叠在所述布线图案上,并通过第三接合层接合在该布线图案上;其中,所述第一接合层、所述第二接合层和所述第三接合层,含有98重量%以上的熔点为400℃以上的一种金属元素。 | ||
地址 | 日本东京 |