发明名称 用于确定流体的密度的方法和测量系统
摘要 在根据本发明的方法和测量系统中,被流体(FL)接触的振动本体(10)可以以使得其至少部分地执行以依赖于接触振动本体的第一表面(10+)的流体的密度以及依赖于振动本体的温度的谐振频率的机械振荡(谐振振荡)的方式振动。为了产生具有信号频率对应于谐振频率、即依赖于流体密度的至少一个信号分量的至少一个振荡测量信号,借助于振荡传感器(51)来记录振动本体的振动。此外,与振动本体的没有接触流体的第二表面(10#)热耦接的温度传感器(61)被用于产生代表振动本体的可变温度的时间曲线的温度测量信号。尤其是由于振动本体的导热率和热容,温度测量信号可以仅具有时间延迟地跟随振动本体从开始的第一温度值Θ<sub>10,t1</sub>到第二温度值Θ<sub>10,t2</sub>的温度变化。基于振荡测量信号以及温度测量信号,产生了代表密度的密度测量值,考虑并且尤其是至少部分地补偿了在振动本体的温度的时间曲线和温度测量信号之间可能出现的任何偏差。
申请公布号 CN104105955A 申请公布日期 2014.10.15
申请号 CN201280063871.7 申请日期 2012.11.22
申请人 恩德斯+豪斯流量技术股份有限公司 发明人 科恩·范戴克;奥马尔·莫门特;海因里希·哈根迈尔
分类号 G01N9/00(2006.01)I;G01F1/84(2006.01)I 主分类号 G01N9/00(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 戚传江;谢丽娜
主权项 一种确定接触振荡地保持的振动本体(10)的流体(FL)的密度ρ的方法,所述振动本体(10)尤其是金属振动本体(10),所述振动本体(10)能够被激励以执行振动,‑其中,所述振动本体具有比导热率λ<sub>10</sub>,尤其是大于5W K<sup>‑1</sup>m<sup>‑1</sup>的比导热率,并且因此具有依赖于所述比导热率λ<sub>10</sub>的导热率Λ<sub>10</sub>,所述导热率Λ<sub>10</sub>对于从一方面所述振动本体的接触流体的第一表面(10+)到另一方面没有接触流体的第二表面(10#)的热传递是有效的,所述第一表面(10+)具有流体温度<img file="FDA0000525233170000011.GIF" wi="115" he="75" />即接触所述第一表面的流体(FL)的温度,并且所述振动本体具有热容C<sub>10</sub>,并且‑其中,所述振动本体的温度<img file="FDA0000525233170000012.GIF" wi="107" he="74" />即依赖于流体温度<img file="FDA0000525233170000013.GIF" wi="84" he="55" />的所述振动本体的温度,是可变的,所述方法包括以下步骤:‑使被流体接触的所述振动本体以下述方式振动:使得所述振动本体至少部分地执行谐振振荡o<sub>r</sub>,即具有谐振频率f<sub>r</sub>的机械振荡,所述谐振频率f<sub>r</sub>依赖于接触所述振动本体的所述第一表面的流体的密度以及也依赖于所述振动本体的温度<img file="FDA0000525233170000014.GIF" wi="83" he="55" />;‑记录所述振动本体的振荡以产生至少一个振荡测量信号s<sub>sens1</sub>,所述至少一个振荡测量信号s<sub>sens1</sub>具有信号频率对应于谐振频率并且因此依赖于流体的密度的至少一个信号分量;‑应用温度传感器(61)来产生温度测量信号θ<sub>sens</sub>,所述温度传感器(61)经由所述振动本体的第二表面与所述振动本体热耦接,所述温度测量信号θ<sub>sens</sub>代表所述振动本体的温度——即依赖于在所述振动本体的第一表面上接触所述振动本体的流体的温度的所述振动本体的温度——的时间曲线,‑‑其中,尤其是由于所述振动本体的所述导热率Λ<sub>10</sub>和所述热容C<sub>10</sub>引起的所述温度测量信号θ<sub>sens</sub>仅时间延迟地跟随所述振动本体的从开始的第一温度值Θ<sub>10,t1</sub>到第二温度值Θ<sub>10,t2</sub>的温度变化,尤其是由在所述振动本体的第一表面上接触所述振动本体的流体的温度变化和/或流体变化引起的变化,‑‑使得所述温度测量信号θ<sub>sens</sub>因此仅时间延迟地对应于所述第二温度值Θ<sub>10,t2</sub>;以及‑基于所述振荡测量信号以及所述温度测量信号,在所述振动本体的温度变化期间,尤其是在由所述振动本体在其第一表面上的温度变化引起的所述振动本体的温度变化期间,以下述方式产生密度测量值X<sub>ρ</sub>:使得考虑在产生所述密度测量值期间,在所述振动本体的温度的时间曲线和所述温度测量信号之间发生的偏差<img file="FDA0000525233170000021.GIF" wi="145" he="69" />尤其是依赖于时间的偏差<img file="FDA0000525233170000022.GIF" wi="149" he="69" />尤其是以使得所述偏差<img file="FDA0000525233170000023.GIF" wi="118" he="69" />至少部分地被补偿的方式。
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