| 发明名称 | 面板检查方法和设备 | ||
| 摘要 | 提供一种面板检查方法和设备，该面板检查方法包括：（a）确定捕捉的面板的图像的亮度的方差值是否大于参考值，并且如果确定方差值大于参考值，则搜索面板的缺陷的原始图像和至少一个二次反射图像；（b）基于在原始图像和二次反射图像的亮度特性之间的差异和搜索的二次反射图像的数量中的至少一个，确定所述缺陷是置于面板上的实际缺陷还是杂质。 | ||
| 申请公布号 | CN104103224A | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
| 申请号 | CN201310487607.2 | 申请日期 | 2013.10.17 |
| 申请人 | 三星泰科威株式会社 | 发明人 | 全材烈;车俊昊;郑载澔;朴尹远 |
| 分类号 | G09G3/00(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I | 主分类号 | G09G3/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人 | 刘奕晴;王兆赓 |
| 主权项 | 一种面板检查方法，包括：（a）确定捕捉的面板的图像的亮度的方差值是否大于参考值，并且如果确定方差值大于参考值，则搜索面板的缺陷的原始图像和至少一个二次反射图像；（b）基于在原始图像和二次反射图像的亮度特性之间的差异和搜索的二次反射图像的数量中的至少一个，确定所述缺陷是置于面板上的实际缺陷还是杂质。 | ||
| 地址 | 韩国庆尚南道昌原市 | ||