| 发明名称 | 光传感IC测试装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开一种光传感IC测试装置，包括暗箱、安装于暗箱中的光传感IC插孔底座、位于光传感器IC插孔底座上方的LED光源、连接LED光源的可调功率电源、以及连接光传感器IC插孔底座的外接万用表，解决了检测光传感IC晃动的问题，并能够解决了测试不易操作，费时的问题。 | ||
| 申请公布号 | CN203881850U | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
| 申请号 | CN201420232398.7 | 申请日期 | 2014.05.07 |
| 申请人 | 江苏奥雷光电有限公司 | 发明人 | 钱亚明 |
| 分类号 | G01R27/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人 | 张弛 |
| 主权项 | 一种光传感IC测试装置，其特征在于：包括暗箱、安装于暗箱中的光传感IC插孔底座、位于光传感器IC插孔底座上方的LED光源、连接LED光源的可调功率电源、以及连接光传感器IC插孔底座的外接万用表；所述可调功率电源具有调节旋钮，该调节旋钮位于暗箱外。 | ||
| 地址 | 212009 江苏省镇江市江苏镇江丁卯开发区潘宗路36号 | ||