发明名称 晶片装配抗氧化装置
摘要 本实用新型公开了一种晶片装配抗氧化装置,高温密封装配舱(1)内设置有用于放置接料引线(2)的支架(3),晶片(4)装配在接料引线(2)上;高温密封装配舱(1)的壁上设置有至少一个抗氧化气体导入口(5),抗氧化气体导入口(5)通过安装组件(6)固定安装在高温密封装配舱(1)的壁上。本实用新型在装配晶片时向高温密封装配舱内注入氢气、氮气等抗氧化气体,可有效避免晶片在高温环境下被氧化;换气方式采用抽真空泵,先将高温密封装配舱内的空气排空形成负压,再通过抗氧化气体导入口注入抗氧化气体,气密性好;安装组件采用法兰结构,结构简单、成本低,且设置了密封垫圈,进一步提高了高温密封装配舱的气密性。
申请公布号 CN203882975U 申请公布日期 2014.10.15
申请号 CN201420325167.0 申请日期 2014.06.18
申请人 四川蓝彩电子科技有限公司 发明人 胡庆伟
分类号 H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01L21/67(2006.01)I
代理机构 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 代理人 袁英;詹权松
主权项 晶片装配抗氧化装置,其特征在于:它包括高温密封装配舱(1),高温密封装配舱(1)内设置有用于放置接料引线(2)的支架(3),晶片(4)装配在接料引线(2)上;所述的高温密封装配舱(1)的壁上设置有至少一个抗氧化气体导入口(5),抗氧化气体导入口(5)通过安装组件(6)固定安装在高温密封装配舱(1)的壁上。
地址 629000 四川省遂宁市经济开发区兴宁路36号