一种免疫层析试纸卡定量检测方法

摘要

本发明公开了一种免疫层析试纸卡定量检测方法，包括以下步骤：(1)将待测免疫层析试纸卡，放置在第一光源的检测光路中，获取第一图像数据矩阵Pic1；(2)将所述待测免疫层析试纸卡，放置在第二光源的检测光路中，获取第二图像数据矩阵Pic2；(3)选定基准区计算图像差分矩阵aPic(4)采用色谱峰检测算法计算特征值；(5)标定待测物浓度。本发明提供的免疫层析试纸卡定量检测方法，可以消除因光路光照不均、检测器镜头暗角等原因导致的基线偏移问题，同时能有效抑制阴影、杂质颗粒干扰物等带来的伪信号峰，从而提高色谱峰识别的准确率，增强免疫标记物色谱峰的信噪比，改善免疫层析试纸卡定量检测方法的准确性与灵敏度。

主权项

一种免疫层析试纸卡定量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)获取特征图像：将检测线T线和质控线C线将出现在试纸卡观测窗中的待测免疫层析试纸卡，放置在第一光源的检测光路中，通过图像传感器获取第一图像数据矩阵Pic1；所述第一光源为免疫层析试纸卡免疫标记物的特征吸收单色光源；(2)获取对比图像：将所述待测免疫层析试纸卡，放置在第二光源的检测光路中，通过图像传感器获取第二图像数据矩阵Pic2；所述第二光源为非特征吸收光源；第二光源与第一光源产生光强的空间分布一致；(3)计算图像差分矩阵ΔPic：其计算公式如下：$\mathrm{\Delta Pic}=(\mathrm{Pic}1-\mathrm{RefB}1)-\frac{\mathrm{RefD}1-\mathrm{RefB}1}{\mathrm{RefD}2-\mathrm{RefB}2}\times (\mathrm{Pic}2-\mathrm{RefB}2)$其中，Pic1和Pic2分别为步骤(1)和(2)中获取的第一图像数据矩阵和第二图像数据矩阵；RefB1和RefD1分别为第一图像亮场基准值和暗场基准值；RefB2和RefD2分别为第二图像亮场基准值和暗场基准值；亮场基准值为亮场基准区内所有像素点图像数据的算术平均值；暗场基准值为暗场基准区内所有像素点图像数据的算术平均值；(4)计算特征值：在图像差分矩阵ΔPic中，选取待测免疫层析试纸卡包含T线和C线的观测窗区域，通过色谱峰检测算法分别获得T线和C线的特征值TV和CV；(5)标定待测物浓度：根据步骤(4)中获得的所述待测免疫层析试纸卡TV和CV值以及TV值、CV值或两者商值与待测物含量Conc的标准曲线，标定所述待测免疫层析试纸卡所检测的待测物含量。