| 发明名称 | 谱数据分析的方法和系统 | ||
| 摘要 | 一种谱数据分析的方法和系统。该方法包含以下步骤：收集未知材料的谱；提供一组元素数据模板；在逼近该谱时计算针对该元素数据模板的最小二乘方加权；在逼近该谱时除去一个或更多个有负加权的模板；以及在所述一个或更多个模板被除去的情况下重新计算该谱的逼近。 | ||
| 申请公布号 | CN102084229B | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
| 申请号 | CN200980112490.1 | 申请日期 | 2009.02.06 |
| 申请人 | FEI公司 | 发明人 | D·R·科贝特;P·戈特利布;M·J·欧文;A·H·门兹斯 |
| 分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J3/30(2006.01)I;G01J3/46(2006.01)I | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 杜娟娟;高为 |
| 主权项 | 一种谱数据分析方法，该方法包含以下步骤： 收集未知材料的谱； 提供一组元素数据模板； 在逼近该谱时，计算该元素数据模板的最小二乘方加权； 在逼近该谱时，除去一个或更多个具有负加权的模板； 在所述一个或更多个模板被除去的情况下重新计算该谱的逼近； 选择该逼近的一个元素； 用重叠元素替代所述一个元素； 用该重叠元素的模板而不是所述一个元素的模板计算候选解； 确定对于该候选解最小绝对误差是否被减小；以及 如果该最小绝对误差被减小了，则将该候选解存储为该谱的被更新的逼近。 | ||
| 地址 | 美国俄勒冈州 | ||