发明名称 | 一种测量封闭空腔金属器具内壁温度分布的方法 | ||
摘要 | 本发明一种测量封闭空腔金属器具内壁温度分布的方法,包括如下步骤,1)通过黑体炉对红外CCD摄像机和光谱仪进行标定,建立光谱信号与辐射强度信号间的对应关系;2)利用光谱仪接收金属表面在不同波长下的辐射光谱信号,由标定数据计算出参考点温度及辐射率;3)利用红外CCD摄像机拍摄金属表面红外辐射图像,根据每个像素点与参考点的单色辐射强度比值,计算得到金属表面温度分布图像,即为金属表面真实温度分布。通过光谱仪获得辐射源在多波段下的辐射能量信息,计算得到辐射源温度和辐射率随波长变化曲线;由红外CCD摄像机捕捉辐射源表面多点的辐射能量信息,通过引入光谱仪测量点作为参考点,实现了辐射源表面温度分布的精确测量。 | ||
申请公布号 | CN104101432A | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
申请号 | CN201410342959.3 | 申请日期 | 2014.07.17 |
申请人 | 中国华能集团公司;西安热工研究院有限公司 | 发明人 | 张向宇;张波;向小凤;徐宏杰;周怀春 |
分类号 | G01J5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01J5/00(2006.01)I |
代理机构 | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人 | 蔡和平 |
主权项 | 一种测量封闭空腔金属器具内壁温度分布的方法,其特征在于,包括如下步骤,1)通过黑体炉对红外CCD摄像机(1)和光谱仪(3)进行标定,建立光谱信号与辐射强度信号间的对应关系;2)利用光谱仪(3)接收金属表面(5)在不同波长下的辐射光谱信号,由标定数据计算出参考点温度及辐射率;3)利用红外CCD摄像机(1)拍摄金属表面(5)红外辐射图像,根据每个像素点与参考点的单色辐射强度比值,计算得到金属表面(5)温度分布图像,即为金属表面(5)真实温度分布。 | ||
地址 | 100031 北京市西城区复兴门内大街6号 |