发明名称 |
高分辨率和高信噪比的X射线成像系统和成像方法 |
摘要 |
本发明提供一种高分辨率和高信噪比的X射线成像系统和成像方法,所述的成像系统包括:狭缝:用于在垂直于狭缝方向形成发光样品的一维高分辨率图像,利用在平行于狭缝方向扩展的通光面积获得高信噪比;线像素探测器阵列:用于探测光强的空间位置的变化,采集所述发光样品的一维高分辨率图像;旋转装置:用于旋转狭缝和线像素探测器阵列,获得发光样品在各个方向上的一维高分辨率和高信噪比的图像,然后利用CT重建方法重建发光样品的高分辨率二维图像。上述成像系统具有成像分辨率高和信噪比高的优点,适用于多种利用X射线针孔成像和编码孔径成像不能获得发光样品满意图像的场合。 |
申请公布号 |
CN104095645A |
申请公布日期 |
2014.10.15 |
申请号 |
CN201310115831.9 |
申请日期 |
2013.04.03 |
申请人 |
中国科学院高能物理研究所 |
发明人 |
朱佩平 |
分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 |
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 |
代理人 |
孟阿妮 |
主权项 |
一种高分辨率和高信噪比的X射线成像系统,其特征在于,包括:狭缝,用于在垂直于狭缝方向形成发光样品的一维高分辨率图像,利用在平行于狭缝方向扩展的通光面积获得高信噪比;线像素探测器阵列,平行于狭缝,用于在垂直于线像素探测器的方向上,探测光强的空间位置的变化,采集所述发光样品的一维高分辨率图像;旋转装置,用于承载狭缝和线像素探测器阵列,能够以狭缝中心和线像素探测器阵列中心连线为轴,同步旋转狭缝和线像素探测器阵列。 |
地址 |
100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙院) |