发明名称 高分辨率和高信噪比的X射线成像系统和成像方法
摘要 本发明提供一种高分辨率和高信噪比的X射线成像系统和成像方法,所述的成像系统包括:狭缝:用于在垂直于狭缝方向形成发光样品的一维高分辨率图像,利用在平行于狭缝方向扩展的通光面积获得高信噪比;线像素探测器阵列:用于探测光强的空间位置的变化,采集所述发光样品的一维高分辨率图像;旋转装置:用于旋转狭缝和线像素探测器阵列,获得发光样品在各个方向上的一维高分辨率和高信噪比的图像,然后利用CT重建方法重建发光样品的高分辨率二维图像。上述成像系统具有成像分辨率高和信噪比高的优点,适用于多种利用X射线针孔成像和编码孔径成像不能获得发光样品满意图像的场合。
申请公布号 CN104095645A 申请公布日期 2014.10.15
申请号 CN201310115831.9 申请日期 2013.04.03
申请人 中国科学院高能物理研究所 发明人 朱佩平
分类号 A61B6/03(2006.01)I 主分类号 A61B6/03(2006.01)I
代理机构 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人 孟阿妮
主权项 一种高分辨率和高信噪比的X射线成像系统,其特征在于,包括:狭缝,用于在垂直于狭缝方向形成发光样品的一维高分辨率图像,利用在平行于狭缝方向扩展的通光面积获得高信噪比;线像素探测器阵列,平行于狭缝,用于在垂直于线像素探测器的方向上,探测光强的空间位置的变化,采集所述发光样品的一维高分辨率图像;旋转装置,用于承载狭缝和线像素探测器阵列,能够以狭缝中心和线像素探测器阵列中心连线为轴,同步旋转狭缝和线像素探测器阵列。
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