| 摘要 |
<p>Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Kalibrierung von streulichtbasierten Partikelmessgeräten, sowie eine Kalibriereinheit. Ausgehend von den Nachteilen des bekannten Standes der Technik soll ein Verfahren geschaffen werden, das sehr gut reproduzierbare Werte liefert und vergleichsweise in der praktischen Anwendung geringe Kosten verursacht. Hierzu wird als Lösung vorgeschlagen, dass eine Kalibriereinheit (1), bestehend aus einem Kalibrierstrahler (10) und einem Kalibrierdetektor (11) sowie einer elektronischen Steuer- und Recheneinheit (9), in die Messkammer des Partikelmessgerätes eingebracht wird. Entweder einzeln oder in Kombination werden in zeitlicher Reihenfolge nacheinander
a) zur Prüfung der Strahlungsquelle des Partikelmessgerätes die von dieser abgegebene Strahlungsstärke mittels des Kalibrierdetektors (11) gemessen und
b) zur Prüfung mindestens eines Detektors des Partikelmessgerätes vom Kalibrierstrahler (10) eine Strahlung mit einer vorgegebenen Stärke als Sollwert abgegeben und vom Detektor gemessen. Die gemessenen Werte gemäß a) werden in der elektronischen Steuer- und Recheneinheit (9) der Kalibriereinheit (1) und gemäß b) in der elektronischen Steuer- und Recheneinheit des Partikelmessgerätes verarbeitet und dem Bediener als Korrekturempfehlung angezeigt und Strahlungsquelle und/oder Detektor nachjustiert.</p> |
