发明名称 |
坏点侦测方法与电脑程式产品 |
摘要 |
一种坏点侦测方法对一待测影像执行次取样后,得到由多个样本点组成的一次取样集合,对每一样本点算出此样本点的一移动平均,并据此判断此样本点是否为一坏点候选像素。当此样本点是一坏点候选像素时,决定此坏点候选像素的一邻近区域所包含的像素皆为坏点侦测的待测像素,并对每一待测像素估算一补偿值与在一遮罩下的一加权平均值。再比较各待测像素的原始像素值与此坏点候选像素的移动平均,求得一假定坏点像素值,然后利用此待测像素的原始像素值、此补偿值、此加权平均值、及此假定坏点像素值,判断此待测像素是否为一坏点。 |
申请公布号 |
TWI456991 |
申请公布日期 |
2014.10.11 |
申请号 |
TW100144393 |
申请日期 |
2011.12.02 |
申请人 |
财团法人工业技术研究院 新竹县竹东镇中兴路4段195号 |
发明人 |
卓昭仪;陈泽民 |
分类号 |
H04N5/367 |
主分类号 |
H04N5/367 |
代理机构 |
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代理人 |
洪尧顺 台北市内湖区行爱路176号3楼 |
主权项 |
一种坏点侦测方法,适用于一影像感测器,该方法包含:由该影像感测器撷取一待测影像后,对该待测影像所包含的多个像素执行次取样,得到由多个样本点组成的一次取样集合;对该次取样集合的每一样本点,算出该样本点的一移动平均,并据此判断该样本点是否为一坏点候选像素;当该样本点是一坏点候选像素时,决定该坏点候选像素的一邻近区域中的像素皆为坏点侦测的待测像素;对该邻近区域中的每一待测像素,估算一补偿值以及在一遮罩下的一加权平均值;将各待测像素的原始像素值与该坏点候选像素的该移动平均比较,以求得一假定坏点像素值;以及利用该待测像素的原始像素值、该补偿值、该加权平均值、及该假定坏点像素值,判断该待测像素是否为一坏点。 |
地址 |
新竹县竹东镇中兴路4段195号 |