发明名称 Seitenerdoxid-Isolierte Halbleiterfinne
摘要 <p>Eine dielektrische Vorlagenschicht wird auf einem Substrat abgeschieden. Leitungsgräben werden innerhalb der dielektrischen Vorlagenschicht durch eine anisotrope Ätzung ausgebildet, die eine strukturierte Maskenschicht einsetzt. Bei der strukturierten Maskenschicht kann es sich um eine strukturierte Photolackschicht oder eine strukturierte Hartmaskenschicht handeln, die durch sonstige Bildübertragungsverfahren ausgebildet wird. Ein unterer Abschnitt jedes Leitungsgrabens wird durch einen selektiven Seltenerdoxid-Epitaxieprozess mit einem epitaktischen Seltenerdoxidmaterial gefüllt. Ein oberer Abschnitt jedes Leitungsgrabens wird durch einen selektiven Halbleiter-Epitaxieprozess mit einem epitaktischen Halbleitermaterial gefüllt. Die dielektrische Vorlagenschicht wird vertieft, um eine dielektrische Materialschicht auszubilden, die eine seitliche elektrische Isolation zwischen Finnenstrukturen bereitstellt, die jeweils einen Stapel aus einem Seltenerdoxid-Finnenabschnitt und einem Halbleiter-Finnenabschnitt beinhalten.</p>
申请公布号 DE112012005252(T5) 申请公布日期 2014.10.09
申请号 DE20121105252T 申请日期 2012.11.12
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 CHENG, KANGGUO;TODI, RAVI M.;ERVIN, JOSEPH;PEI, CHENGWEN;WANG, GENG
分类号 H01L21/336 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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