发明名称 | 有机EL 显示器的修复方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种有机EL显示器的修复方法。所述有机EL显示器的修复方法在有机EL显示器的制造中,在像素电极中混入异物或在像素电极的表面附着异物并因该异物产生缺陷的情况下,仅简单地局部修复缺陷部,且在修复后不会产生对修复部周围的损伤。在有机EL显示器的制造中,通过检测混入到像素电极的异物,针对混入到像素电极的异物,向下方压下前端为半球状的微细的针,使异物和像素电极的一部分一起塑性变形,将异物嵌入像素电极内,由此修复异物导致的缺陷。通过将异物压入像素电极来防止因异物引起的短路缺陷。 | ||
申请公布号 | CN102790011B | 申请公布日期 | 2014.10.08 |
申请号 | CN201210152424.0 | 申请日期 | 2012.05.16 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 宫泽和利 |
分类号 | H01L21/77(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/77(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 贾静环 |
主权项 | 一种有机EL显示器的修复方法,其为能够制造有机EL显示器的有机EL显示器的修复方法,所述有机EL显示器具有:含TFT的具有驱动电路的基板,以及在所述基板上配置成矩阵状的多个有机EL元件,且所述有机EL元件含有配置于所述基板上的像素电极、配置于像素电极上的有机层、以及配置于所述有机层上的对置电极,其特征在于,所述修复方法包括:在所述基板上形成像素电极从而对应于各有机EL元件的工序;检测混入到所述像素电极的异物的工序;以及将混入到所述像素电极的异物压入所述像素电极的内部的工序。 | ||
地址 | 日本大阪府 |