发明名称 |
红外分析用待测薄片的制备方法及测定Fc、Ec和Et的方法 |
摘要 |
本发明提供了一种红外分析用待测薄片的制备方法及测定Fc、Ec和Et的方法。该制备方法包括以下步骤:S1、将抗冲共聚物进行两次压片形成薄片;S2、将薄片在2~5min内冷却至室温形成待测薄片。将抗冲共聚物采用压片机进行两次压片,在压片过程聚物分子的晶型呈不规则排列,然后采用急速冷却的方式使薄片在2~5min内降温至室温,从而得到的待测薄片表面光滑、无斑点出现且呈半透明状态,内部的共聚物分子的晶型保持不规则排列,从而在采用其测定Fc、Ec和Et时,能够数据的重现性较好,测试结果较为准确,能够准确及时反映工艺状况。 |
申请公布号 |
CN102879247B |
申请公布日期 |
2014.10.08 |
申请号 |
CN201210380845.9 |
申请日期 |
2012.10.09 |
申请人 |
神华集团有限责任公司;中国神华煤制油化工有限公司;中国神华煤制油化工有限公司包头煤化工分公司 |
发明人 |
王玉辉;刘国圣;张大伟;周丛 |
分类号 |
G01N1/28(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I |
主分类号 |
G01N1/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
李丙林;余刚 |
主权项 |
一种红外分析用待测薄片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:S1、将抗冲共聚物进行两次压片形成薄片;S2、将所述薄片在2~5min内冷却至室温形成所述待测薄片,所述步骤S1包括:S11、将所述抗冲共聚物进行第一次压片,形成第一薄片;S12、将所述第一薄片加工为碎片;以及S13、采用与所述步骤S11相同的方法将所述碎片进行第二次压片形成所述薄片。 |
地址 |
100011 北京市东城区安定门西滨河路22号神华大厦 |