| 发明名称 | X射线系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种X射线系统，所述系统包括：X射线出射装置，用于出射X射线；电离室调节装置，所述X射线出射装置位于所述电离室调节装置的一侧的对应位置，用于搭设电离室，所述电离室接收所述X射线；激光器调整装置，位于所述电离室调节装置的另一侧的对应位置，用于发射激光光束，所述激光光束与所述X射线同轴。本发明X射线系统实现了方便的对X射线辐射场的测量。 | ||
| 申请公布号 | CN104090289A | 申请公布日期 | 2014.10.08 |
| 申请号 | CN201410325882.9 | 申请日期 | 2014.07.09 |
| 申请人 | 中国计量科学研究院 | 发明人 | 吴金杰;李兵;蒋伟;陈法君 |
| 分类号 | G01T1/00(2006.01)I;G01T1/185(2006.01)I;G01T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人 | 李楠 |
| 主权项 | 一种X射线系统，其特征在于，所述系统包括：X射线出射装置，用于出射X射线；电离室调节装置，所述X射线出射装置位于所述电离室调节装置的一侧的对应位置，用于搭设电离室，所述电离室接收所述X射线；激光器调整装置，位于所述电离室调节装置的另一侧的对应位置，用于发射激光光束，所述激光光束与所述X射线同轴。 | ||
| 地址 | 100029 北京市朝阳区北三环东路18号 | ||