发明名称 电子设备测试方法及系统
摘要 本发明提供一种电子设备测试方法及系统,用于藉由一测试设备对至少一待测设备进行MMI测试作业,测试方法的具体步骤为于所述测试设备上配置一扫描设备,并建立所述测试设备与所述待测设备的连接;令所述扫描设备扫描待测电子设备的识别码并传输给所述测试设备;检测所述待测设备进行触发输入时所述待测设备输出的相应事件,并依据所述相应事件生成测试结果码,并将所述测试结果码于所述待测设备的屏幕上予以显示;令所述扫描设备扫描所述测试结果码并传输给所述测试设备;所述测试设备将所述测试结果码与所述待测电子设备的识别码进行关联生成测试日志。具有测试效率高、测试准确率高、测试结果录入方便快捷等优点。
申请公布号 CN104090964A 申请公布日期 2014.10.08
申请号 CN201410335774.X 申请日期 2014.07.15
申请人 上海斐讯数据通信技术有限公司 发明人 王子
分类号 G06F17/30(2006.01)I;G06K17/00(2006.01)I 主分类号 G06F17/30(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 余明伟
主权项 一种电子设备测试方法,用于藉由一测试设备对至少一待测设备进行MMI测试作业,包括如下步骤:于所述测试设备上配置一扫描设备,并建立所述测试设备与所述待测设备的连接;令所述扫描设备扫描待测电子设备的识别码并传输给所述测试设备;检测所述待测设备进行触发输入时所述待测设备输出的相应事件,并依据所述相应事件生成测试结果码,并将所述测试结果码于所述待测设备的屏幕上予以显示;令所述扫描设备扫描所述测试结果码并传输给所述测试设备;所述测试设备将所述测试结果码与所述待测电子设备的识别码进行关联生成测试日志。
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