发明名称 一种基于超导纳米线的高偏振比单光子探测器
摘要 本发明提供一种基于超导纳米线的高偏振比单光子探测器,包括:衬底;抗反射层,结合于所述衬底表面;超导纳米线,呈周期性蜿蜒结构结合于所述抗反射层表面,所述超导纳米线的宽度为不大于75纳米,厚度为不小于7纳米,占空比为不大于40%。本发明通过调整单光子探测器的超导纳米线的宽度、厚度以及占空比,实现了单光子探测器较大的偏振比,相比于传统的偏振探测器件具有体积小、结构简单、灵敏度高、暗计数低等优点,无需要外部集成偏振器件等优势。
申请公布号 CN104091884A 申请公布日期 2014.10.08
申请号 CN201410334719.9 申请日期 2014.07.15
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 尤立星;李浩;郭琦;张伟君;张露;王镇
分类号 H01L39/08(2006.01)I;H01L39/10(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I 主分类号 H01L39/08(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 李仪萍
主权项 一种基于超导纳米线的高偏振比单光子探测器,其特征在于,包括:衬底;抗反射层,结合于所述衬底表面;超导纳米线,呈周期性蜿蜒结构结合于所述抗反射层表面,所述超导纳米线的宽度为不大于75纳米,厚度为不小于7纳米,占空比为不大于40%。
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号