| 发明名称 | 激光勘查装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供了一种激光勘查装置，发射用于现场勘查的光束，包括：多个半导体激光单元，以阵列方式设置在底座上；汇聚反射镜，设置在半导体激光单元阵列上方以反射多个半导体激光单元发射的激光汇聚到出光口以形成出射光束；和调焦透镜部件，设置在出光口，调焦透镜部件用于对出射光束进行调节。本实用新型的激光勘查装置在勘探过程中不会破坏痕迹。 | ||
| 申请公布号 | CN203870008U | 申请公布日期 | 2014.10.08 |
| 申请号 | CN201420253423.X | 申请日期 | 2014.05.16 |
| 申请人 | 李阳;杨洋 | 发明人 | 李阳;杨洋 |
| 分类号 | G01N21/01(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/01(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人 | 康正德;薛峰 |
| 主权项 | 一种激光勘查装置，发射用于现场勘查的光束，其特征在于，包括：多个半导体激光单元(30)，以阵列方式设置在底座(10)上；汇聚反射镜(40)，设置在半导体激光单元阵列上方以反射所述多个半导体激光单元(30)发射的激光汇聚到出光口(22)以形成出射光束；和调焦透镜部件(20)，设置在所述出光口(22)，调焦透镜部件(20)用于对所述出射光束进行调节。 | ||
| 地址 | 100022 北京市朝阳区建外大街甲24号东海中心1501室 | ||