| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur spektroskopischen Messwerterfassung von physikalischen und/oder chemischen Parametern eines Messobjektes (1) mit a) wenigstens einem in oder an einem Gehäuse (10) angeordneten Emitter (2) zur Emission elektromagnetischer Strahlung (60) auf einen Messbereich (3), b) wenigstens einem in dem Gehäuse (10) angeordneten Spektralapparat (4) zur Selektion und/oder Ausblendung einzelner oder mehrerer Wellenlängenbereiche der von dem Messbereich (3) ausgehenden elektromagnetischen Strahlung (61), c) wenigstens einem in dem Gehäuse (10) angeordneten Detektor (5) zur Detektion der durch den wenigstens einen Spektralapparat transmittierten elektromagnetischen Strahlung, d) einer Steuereinrichtung (6) zur Steuerung der Vorrichtung und zur Messwerterfassung und -verarbeitung, wobei zwischen dem Messbereich (3) und dem Spektralapparat (4) eine erste Abbildungsoptik (7) an oder in dem Gehäuse (10) angeordnet ist.</p> |
