发明名称 VORRICHTUNG FÜR EINEN FOKUSSIERTEN IONENSTRAHL UND DEREN STEUERVERFAHREN
摘要 Eine Vorrichtung für einen fokussierten Ionenstrahl ist dazu ausgebildet, einen Ablauf zum Steuern eines Betriebes von einer Kühleinheit derart durchzuführen, dass eine Temperatur einer Wandfläche, mit welcher ein Quellengas in Kontakt steht, in einer Ionenquelle-Kammer auf einer Temperatur beibehalten wird, welche höher als eine Temperatur ist, bei welcher das Quellengas gefriert, und/oder einen Ablauf zum Steuern eines Betriebes von einem Erwärmer derart durchzuführen, dass ein Emitter temporär erwärmt wird, wenn das Quellengas ausgetauscht wird.
申请公布号 DE102014103689(A1) 申请公布日期 2014.10.02
申请号 DE201410103689 申请日期 2014.03.18
申请人 HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION 发明人 ARAMAKI, FUMIO;SUGIYAMA, YASUHIKO;OBA, HIROSHI
分类号 H01J37/08 主分类号 H01J37/08
代理机构 代理人
主权项
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