发明名称 电子元件检测装置及其治具
摘要 一种电子元件检测装置,适用于一待测电子元件之电性测试,待测电子元件具有复数个导电接触部,电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具,测试电路板形成有复数个焊接部,治具包括一绝缘本体、复数根探针及一锁接组件,绝缘本体形成有一用以供待测电子元件容置的容置槽,及复数个与容置槽相连通的贯孔,各探针可移离地穿设于对应的贯孔内,各探针底端焊接于对应的焊接部,各探针顶端抵接于对应的导电接触部,使各探针电性连接于对应的焊接部与对应的导电接触部之间,锁接组件可拆卸地将绝缘本体锁固于测试电路板上。
申请公布号 TWM487436 申请公布日期 2014.10.01
申请号 TW103210275 申请日期 2014.06.11
申请人 泰艺电子股份有限公司 台北市中正区博爱路76号5楼 发明人 黄文荣;温汉威;林承贤;赖俊铭;杨建成;吴荣富;宋胜泰
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人 高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种电子元件检测装置,适用于一待测电子元件之电性测试,该待测电子元件具有复数个导电接触部,该电子元件检测装置包含:一测试电路板,形成有复数个焊接部,一治具,包括:一绝缘本体,设置于该测试电路板上,该绝缘本体形成有一用以供该待测电子元件容置的容置槽,及复数个与该容置槽相连通的贯孔,复数根探针,各该探针可移离地穿设于对应的该贯孔内,各该探针底端焊接于对应的该焊接部,各该探针顶端抵接于对应的该导电接触部,使各该探针电性连接于对应的该焊接部与对应的该导电接触部之间,及至少一锁接组件,可拆卸地将该绝缘本体锁固于该测试电路板上。
地址 台北市中正区博爱路76号5楼