发明名称 | 用于测量反射表面形状的系统及其校准方法 | ||
摘要 | 本发明描述了一种用于测量反射表面(14)的形状的方法和相应的系统,所述系统具有用于在反射表面(14)上反射的至少一个图形(15)和用于逐像素地观察在表面(14)上反射的图形(15)的至少一个摄像机(1),其中摄像机(1)和图形(15)的位置和取向是已知的。为了以较小的装置复杂度可靠地测量反射表面的形状,利用摄像机(1)的观察方向和图形(15)的位置确定表面角和表面高度,从而测量所述形状,其中所述摄像机(1)的观察方向对于像素(8)而言是已知的,并且所述图形(15)的位置对应被反射的图形(15)在摄像机(1)的像素(8)上的映射。 | ||
申请公布号 | CN102305602B | 申请公布日期 | 2014.10.01 |
申请号 | CN201110133405.9 | 申请日期 | 2007.03.08 |
申请人 | 伊斯拉表面视觉有限公司 | 发明人 | S·维南德;A·鲁德特 |
分类号 | G01B11/25(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
代理机构 | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人 | 张静娟;杨晓光 |
主权项 | 一种校准用于测量反射表面的形状的系统的方法,所述系统包括具有用于在反射表面(14)上反射的图形(15)的图形载体(2),和用于逐像素地观察在表面(14)上反射的图形(15)的摄像机(1),所述方法的特征在于:为了校准所述摄像机(1)和图形(15)的位置和取向以及所述摄像机(1)的每个像素的观察方向,使用平行配置并且被相继观察的两个大面积的平面反射镜表面(5,6),并且所述反射镜表面(5,6)借助液体产生。 | ||
地址 | 德国黑尔登 |