发明名称 半导体装置及其校正方法
摘要 本发明提供一种半导体装置,其包括:半导体光源;阵列感测器,用以感测半导体光源所发射并经物体反射的光,及将反射光的功率转换成电讯号;回馈控制单元,根据电讯号,回馈控制半导体光源的光功率。
申请公布号 TWI455644 申请公布日期 2014.10.01
申请号 TW096128046 申请日期 2007.07.31
申请人 原相科技股份有限公司 新竹市新竹科学园区创新一路5号5楼 发明人 吴志彦
分类号 H05B37/02 主分类号 H05B37/02
代理机构 代理人 任秀妍 新竹市光复路2段481号9楼
主权项 一种半导体装置,包括:半导体光源;阵列感测器,用以感测该半导体光源所发射并经物体反射的光,及将该反射光的功率转换成电讯号;回馈控制单元,根据该电讯号,回馈控制该半导体光源的光功率;及可程式化装置,在未被程式化之前,暂存并输出该回馈控制单元的输出讯号以控制该半导体光源的发光功率,以及,在接收程式化讯号而被程式化之后,产生固定的输出讯号,以控制该半导体光源以固定光功率发光,藉此,该半导体光源的发光功率得以在该半导体装置制造时,受校正并设定。
地址 新竹市新竹科学园区创新一路5号5楼