发明名称 图案形成方法、组成物套组、抗蚀剂膜、及使用它们的电子元件的制造方法及电子元件;PATTERN FORMING METHOD, COMPOSITION KIT, RESIST FILM, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE USING THE SAME AND ELECTRONIC DEVICE
摘要 本发明提供一种于线宽为60 nm以下的微细图案的形成中,感度、解析力、LWR及图案形状优异的图案形成方法、组成物套组、使用其的抗蚀剂膜、电子元件的制造方法及电子元件。上述图案形成方法包括:(i)使用感电子束性或感极紫外线性树脂组成物于基板上形成膜的步骤;(ii)使用含有具有由通式(I-1)~通式(I-5)所表示的重复单元的至少任一者的树脂(T)的顶涂组成物,于上述膜上形成顶涂层的步骤;(iii)使用电子束或极紫外线对具有上述顶涂层的膜进行曝光的步骤;以及(iv)于上述曝光后,对具有上述顶涂层的膜进行显影而形成图案的步骤。;上述通式(I-1)~通式(I-5)中,Rt1、Rt2及Rt3分别独立地表示氢原子、烷基、环烷基、卤素原子、氰基、或烷氧基羰基。其中,Rt2可与Lt1键结而形成环。Xt1分别独立地表示单键、-COO-或-CONRt7-。Rt7表示氢原子或烷基。Lt1分别独立地表示单键、伸烷基、伸芳基或该些的组合,其间可插入-O-或-COO-,当与Lt2连结时,与Lt2之间可经由-O-而连结。Rt4、Rt5、及Rt6分别独立地表示烷基或芳基。Lt2表示具有至少1个拉电子基的伸烷基或伸芳基。
申请公布号 TW201437747 申请公布日期 2014.10.01
申请号 TW103106506 申请日期 2014.02.26
申请人 富士软片股份有限公司 发明人 滝沢裕雄;岩戸薫
分类号 G03F7/004(2006.01);G03F1/20(2012.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G03F7/004(2006.01)
代理机构 代理人 <name>叶璟宗</name><name>郑婷文</name><name>詹富闵</name>
主权项
地址 日本