发明名称 用于三维图案化器件之微影模型;A LITHOGRAPHY MODEL FOR THREE-DIMENSIONAL PATTERNING DEVICE
摘要 本文揭示一种用于在一微影投影装置中模拟包含一或多个特征之一图案化器件之一散射辐射场的电脑实施方法,该方法包含:使用该一或多个特征之特征元件之一或多个散射函数来判定该图案化器件之一散射函数;其中该一或多个特征中至少一者为一三维特征,或该一或多个散射函数特性化该等特征元件上处于复数个入射角之入射辐射场之散射。
申请公布号 TW201437736 申请公布日期 2014.10.01
申请号 TW103104979 申请日期 2014.02.14
申请人 ASML荷兰公司 发明人 刘朋
分类号 G03F1/36(2012.01) 主分类号 G03F1/36(2012.01)
代理机构 代理人 <name>林嘉兴</name>
主权项
地址 荷兰