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发明名称
金属合金薄膜的原子层沉积;ATOMIC LAYER DEPOSITION OF METAL ALLOY FILMS
摘要
本文提供沉积含有铪或锆之金属合金薄膜的方法。某些方法包括依序地将基板表面曝露于交替的有机金属前驱物流及含有M(BH4)4之还原剂流以在基板表面上产生金属合金薄膜,其中,M选自铪及锆,及有机金属前驱物含有金属N。描述闸极堆叠包括铜阻障层,该铜阻障层包括硼、选自Hf及Zr之第一金属M,及选自钽、钨、铜、钌、铑、钴,及镍之第二金属N;及包括覆盖在铜阻障晶种层上方之铜层。
申请公布号
TW201438073
申请公布日期
2014.10.01
申请号
TW103104119
申请日期
2014.02.07
申请人
应用材料股份有限公司
发明人
韦德曼堤摩西W;麦克森堤摩西;马伯方;迪顿保罗
分类号
H01L21/28(2006.01);H01L21/336(2006.01)
主分类号
H01L21/28(2006.01)
代理机构
代理人
<name>蔡坤财</name><name>李世章</name>
主权项
地址
美国
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