发明名称 一种基于环形扫描斜率提取非球面面形测量系统及方法
摘要 本发明涉及一种基于环形扫描斜率提取非球面面形测量系统及方法,属于光电技术检测领域,所述测量系统包括激光器、扩束系统透镜组、刻蚀不透明点的平面透镜、成像CCD和一维电控移动台构成;本发明基于环形扫描斜率提取的非球面面形测量,无需补偿器,动态范围大,精度高,其研究成果可用于主镜初抛阶段的检测,解决相关技术瓶颈,具有重要的工程应用价值和现实意义。
申请公布号 CN104075667A 申请公布日期 2014.10.01
申请号 CN201410294133.4 申请日期 2014.06.25
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 吴永前;黄传科;范斌;刘锋伟
分类号 G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G01B11/24(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 成金玉;孟卜娟
主权项 一种基于环形扫描斜率提取非球面面形测量系统,其特征在于:所述测量系统包括激光器、扩束系统透镜组、刻蚀不透明点的平面透镜、成像CCD和一维电控移动台构成;测量系统放置在被测非球面镜的曲率中心附近,激光器发出的光经过扩束后经透镜组汇聚到平面透镜的外表面,光束汇聚到平面透镜的外表面时形成无像差点,在汇聚点的旁边刻蚀了很小的一个点,与光束聚焦点偏离毫米量级,刻蚀点微米大小;点光源发出的光,照射到被测非球面镜会反射回来,沿着镜面法线入射的光线会沿原光路返回,使点光源微小偏离光轴,镜面法线环带的光线会汇聚到被刻蚀的点上;镜面法线环带的光线被阻挡,其它环带的光没有被阻挡,则在成像CCD上可以看到镜面上法线处为一圈暗环;通过分析镜面成像的光强图,读出对应环带一维电控移动平台移动的距离,计算出环带的斜率,再通过对斜率积分得到被测非球面的面形。
地址 610209 四川省成都市双流350信箱
您可能感兴趣的专利