一种光谱发射率的瞬态测试系统与方法

摘要

本发明公开一种光谱发射率的瞬态测试系统及方法，该系统包括：样品加热单元，用于对样品进行热辐射加热，所述样品为具有漫射表面的不透明材料；判断单元，用于判断所述样品加热单元的加热时间是否达到预设加热时长，若达到预设加热时长，则停止所述样品加热单元的加热，样品自然冷却降温，否则不停止；光谱辐射能量测量单元，用于对样品表面的多光谱辐射能量进行测量；光谱发射率反演单元，用于根据多光谱辐射能量反演样品的光谱发射率与温度。

主权项

一种光谱发射率的瞬态测试系统，其特征在于，该系统包括：样品加热单元，用于对样品进行热辐射加热，所述样品为具有漫射表面的不透明材料；判断单元，用于判断所述样品加热单元的加热时间是否达到预设加热时长，若达到预设加热时长，则停止所述样品加热单元的加热，样品自然冷却降温，否则不停止；光谱辐射能量测量单元，用于对样品表面的多光谱辐射能量进行测量；光谱发射率反演单元，用于根据多光谱辐射能量反演样品的光谱发射率与温度。