发明名称 |
半导体装置 |
摘要 |
实施方式的半导体装置包括第一电极、第一导电型的第一半导体区域、第一导电型的第二半导体区域、第二导电型的第三半导体区域、第二导电型的第四半导体区域、第二电极以及第一中间金属膜。第一半导体区域设在第一电极之上,具有第一杂质浓度。第二半导体区域设在第一半导体区域之上,具有比第一杂质浓度高的第二杂质浓度。第三半导体区域及第四半导体区域设在第二半导体区域之上。第三半导体区域具有第三杂质浓度。第四半导体区域具有比第三杂质浓度低的第四杂质浓度。第二电极设在第三半导体区域及第四半导体区域之上,与第三半导体区域欧姆接触。第一中间金属膜设在第二电极与第四半导体区域之间,与第四半导体区域进行肖特基接合。 |
申请公布号 |
CN104078493A |
申请公布日期 |
2014.10.01 |
申请号 |
CN201310722167.4 |
申请日期 |
2013.12.24 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
末代知子;小仓常雄;押野雄一 |
分类号 |
H01L29/47(2006.01)I;H01L29/872(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/47(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
杨谦;胡建新 |
主权项 |
一种半导体装置,具备:第一电极;第一导电型的第一半导体区域,设在上述第一电极之上,具有第一杂质浓度;第一导电型的第二半导体区域,设在上述第一半导体区域之上,具有比上述第一杂质浓度高的第二杂质浓度;第二导电型的第三半导体区域,设在上述第二半导体区域之上,具有第三杂质浓度;第二导电型的第四半导体区域,设在上述第二半导体区域之上,具有比上述第三杂质浓度低的第四杂质浓度;第二电极,设在上述第三半导体区域及上述第四半导体区域之上,与上述第三半导体区域欧姆接触;以及第一中间金属膜,设在上述第二电极与上述第四半导体区域之间,与上述第四半导体区域进行肖特基接合。 |
地址 |
日本东京都 |