发明名称 半导体装置
摘要 实施方式的半导体装置包括第一电极、第一导电型的第一半导体区域、第一导电型的第二半导体区域、第二导电型的第三半导体区域、第二导电型的第四半导体区域、第二电极以及第一中间金属膜。第一半导体区域设在第一电极之上,具有第一杂质浓度。第二半导体区域设在第一半导体区域之上,具有比第一杂质浓度高的第二杂质浓度。第三半导体区域及第四半导体区域设在第二半导体区域之上。第三半导体区域具有第三杂质浓度。第四半导体区域具有比第三杂质浓度低的第四杂质浓度。第二电极设在第三半导体区域及第四半导体区域之上,与第三半导体区域欧姆接触。第一中间金属膜设在第二电极与第四半导体区域之间,与第四半导体区域进行肖特基接合。
申请公布号 CN104078493A 申请公布日期 2014.10.01
申请号 CN201310722167.4 申请日期 2013.12.24
申请人 株式会社东芝 发明人 末代知子;小仓常雄;押野雄一
分类号 H01L29/47(2006.01)I;H01L29/872(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L29/47(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 杨谦;胡建新
主权项 一种半导体装置,具备:第一电极;第一导电型的第一半导体区域,设在上述第一电极之上,具有第一杂质浓度;第一导电型的第二半导体区域,设在上述第一半导体区域之上,具有比上述第一杂质浓度高的第二杂质浓度;第二导电型的第三半导体区域,设在上述第二半导体区域之上,具有第三杂质浓度;第二导电型的第四半导体区域,设在上述第二半导体区域之上,具有比上述第三杂质浓度低的第四杂质浓度;第二电极,设在上述第三半导体区域及上述第四半导体区域之上,与上述第三半导体区域欧姆接触;以及第一中间金属膜,设在上述第二电极与上述第四半导体区域之间,与上述第四半导体区域进行肖特基接合。
地址 日本东京都