发明名称 一种测量磁性元件磁通量的装置
摘要 本实用新型公开了一种测量磁性元件磁通量的装置,包括亥姆霍兹线圈和与亥姆霍兹线圈连接的磁通计,亥姆霍兹线圈包括支撑座、同轴设置在所述的支撑座左右两端的第一线圈和第二线圈,该装置还包括用于将磁性元件翻转180度的翻转机构,翻转机构的一端设置有用于安装固定磁性元件的定位台,定位台位于第一线圈和第二线圈之间,测试时,将磁性元件装入定位台中,磁通计清零后翻转机构驱动磁性元件翻转180度后静止,读取磁通计得到磁性元件磁通量;优点是操作简单,劳动强度低,测试效率较高,测试数据的可重复性和准确性较高,且不受限于磁性元件的体积大小。
申请公布号 CN203858349U 申请公布日期 2014.10.01
申请号 CN201420266211.5 申请日期 2014.05.23
申请人 宁波兴隆磁性技术有限公司 发明人 黄可可;李正瑜;王西平
分类号 G01R33/12(2006.01)I 主分类号 G01R33/12(2006.01)I
代理机构 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) 33226 代理人 方小惠
主权项 一种测量磁性元件磁通量的装置,包括亥姆霍兹线圈和与所述的亥姆霍兹线圈连接的磁通计,所述的亥姆霍兹线圈包括支撑座、同轴设置在所述的支撑座左右两端的第一线圈和第二线圈,其特征在于该装置还包括用于将磁性元件翻转180度的翻转机构,所述的翻转机构的一端设置有用于安装固定磁性元件的定位台,所述的定位台位于所述的第一线圈和所述的第二线圈之间,测试时,将磁性元件装入所述的定位台中,磁性元件的充磁方向沿所述的亥姆霍茨线圈的轴向且磁性元件位于所述的第一线圈和所述的第二线圈正中间,磁性元件朝向所述的第一线圈的端面为第一端面,磁性元件朝向所述的第二线圈的端面为第二端面,磁通计清零后翻转机构驱动磁性元件翻转180度后静止,读取磁通计得到磁性元件磁通量,此时磁性元件的第一端面朝向所述的第二线圈,磁性元件的第二端面朝向所述的第一线圈。
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