发明名称 |
通过直接测量干涉图案进行X 射线成像的X 射线拍摄系统 |
摘要 |
本发明涉及一种通过直接测量干涉图案(18)对检查对象(6)进行X射线成像,特别是进行差分的、有实时能力的相位对比成像的X射线拍摄系统,具有用于产生准相干X射线辐射的至少一个X射线辐射器(3)、具有探测器层(21)和按照矩阵布置的探测器像素(22)的X射线图像探测器(4)、布置在检查对象(6)和X射线图像探测器(4)之间并且产生干涉图案(18)的衍射或相位光栅(17),第n个塔耳波特阶中的干涉图案(18)直接通过具有非常高的可达到的位置分辨率的X射线探测器(4)来检测,所述位置分辨率按照尼奎斯特理论至少为在第n个塔耳波特阶中形成的干涉图案(18)的一半波长。 |
申请公布号 |
CN104068875A |
申请公布日期 |
2014.10.01 |
申请号 |
CN201410113535.X |
申请日期 |
2014.03.25 |
申请人 |
西门子公司 |
发明人 |
P.伯恩哈特;M.斯帕恩 |
分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
谢强 |
主权项 |
一种通过直接测量干涉图案(18)对检查对象(6)进行X射线成像的X射线拍摄系统,包括:用于产生准相干X射线辐射的至少一个X射线辐射器(3);具有探测器层(21)和按照矩阵布置的探测器像素(22)的X射线图像探测器(4);布置在检查对象(6)和X射线图像探测器(4)之间并且产生干涉图案(18)的衍射或相位光栅(17),其特征在于,第n个塔耳波特阶中的干涉图案(18)直接通过具有非常高的可达到的位置分辨率的X射线图像探测器(4)来检测,所述位置分辨率按照尼奎斯特理论至少为在第n个塔耳波特阶中形成的干涉图案(18)的一半波长。 |
地址 |
德国慕尼黑 |