Eine SPIM(Selective/Single Plane Illumination Microscopy)-Anordnung mit einer Beleuchtungseinrichtung (1) zur Erzeugung eines eine Probe (2) beleuchtenden Lichtblatts (3) und einer einen Detektor (4) aufweisenden Detektionseinrichtung (5) für von der Probe (2) ausgehendes Detektionslicht ist im Hinblick auf eine effiziente und schonende Probenuntersuchung mit konstruktiv einfachen Mitteln derart ausgestaltet und weitergebildet, dass die Detektionseinrichtung (5) eine Einrichtung (6) zur Zuordnung verschiedener Fokusebenen des Lichtblatts (3) zu verschiedenen Regionen (7) des Detektors (4) aufweist.
