发明名称 一种终点侦测装置
摘要 本实用新型提供一种终点侦测装置,至少包含:光信号收集装置,包含一半球体部、一第一圆柱体部和一第二圆柱体部;所述光信号收集装置设有一开口朝向反应室外部的深孔,所述深孔的底部中心与半球体部的聚焦点相重合;光信号处理系统;光纤。在所述光信号收集装置上设置一置于反应室内的半球体部,可以使得光信号收集装置接收更多的光信号;在所述光信号收集装置上设有一开口朝向反应室外部的深孔,可以使得光纤的采光点的位置前移,最大限度地接收到更多的光信号。光信号收集装置接收并有效传输更多的光信号至光信号处理系统,可以大大提高对刻蚀终点侦测的准确性,从而避免了产品的报废和机台停机等问题的发生,大大提升了机台的利用率。
申请公布号 CN203850260U 申请公布日期 2014.09.24
申请号 CN201420262234.9 申请日期 2014.05.21
申请人 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 发明人 苏飞;崔强;张知俊
分类号 H01L21/66(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 李仪萍
主权项 一种终点侦测装置,其特征在于,所述终点侦测装置至少包含:光信号收集装置,设置于一反应室侧壁上的安装孔内,所述光信号收集装置包含一半球体部、一第一圆柱体部和一第二圆柱体部,所述半球体部、第一圆柱体部和第二圆柱体部三者形成为一体,所述半球体部置于反应室内,所述第一圆柱体部置于所述安装孔内,所述第二圆柱体部置于反应室侧壁外侧,且所述第二圆柱体部的直径大于所述安装孔的直径;所述光信号收集装置设有一开口朝向反应室外部的深孔,所述深孔的底部中心与所述半球体部的聚焦点相重合;光信号处理系统,用于处理所述光信号收集装置收集的光信号;光纤,一端置于所述深孔底部,另一端与所述光信号处理系统相连接。
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