发明名称 基于分块形式计算面板加工误差对电性能影响的方法
摘要 本发明涉及基于分块形式计算面板加工误差对电性能影响的方法,用于指导面板表面的加工和天线电性能仿真分析与评价,本发明把受表面误差影响的远场表示为理想场与误差场之和,在求天线平均功率时可将不同面板之间的误差功率简化为零处理,减少了计算量;根据天线的实际分块形式计算表面加工误差对电性能的影响,更接近于工程实际;利用精确的四重数值积分求解单块面板的平均误差功率,避免了传统积分时间隔矢量Δ无法完整表示的缺陷;通过仿真分析得出表面误差均方根的上限值,避免了凭经验提出过高的精度要求,降低了加工难度同时又满足电性能指标。
申请公布号 CN104063587A 申请公布日期 2014.09.24
申请号 CN201410257555.4 申请日期 2014.06.11
申请人 西安电子科技大学 发明人 王猛;王从思;王伟;张逸群;虞梦月;李鹏;周金柱;宋立伟
分类号 G06F19/00(2011.01)I 主分类号 G06F19/00(2011.01)I
代理机构 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人 张培勋
主权项 基于分块形式计算面板加工误差对电性能影响的方法,其特征是:至少包括如下步骤:(1)把单块面板远场积分表达式中的相位影响项进行一阶泰勒展开,将远场表示为理想场与误差场之和;(2)根据加工工艺确定每块面板的随机误差相关半径,然后得到同块面板不同位置处的误差相关函数,最后求得每块面板任意两点法向随机误差γ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>1</sub>)与γ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>2</sub>)乘积的均值&lt;γ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>1</sub>)γ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>2</sub>)&gt;;(3)利用法向误差与相位误差的关系求得每块面板任意两点相位误差δ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>1</sub>)与δ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>2</sub>)乘积的均值&lt;δ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>1</sub>)δ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>2</sub>)&gt;;(4)将面板在远场的误差场强δE<sub>n,i</sub>与其共轭<img file="FDA0000518971910000011.GIF" wi="108" he="82" />相乘并求平均,推导得出单块面板在远场的平均误差功率表达式<img file="FDA0000518971910000012.GIF" wi="255" he="97" />(5)确定每块面板的积分区间参数,包括径向参数,即:单块面板的内、外径:a<sub>11</sub>,a<sub>12</sub>,a<sub>21</sub>,a<sub>22</sub>;周向参数,即:单块面板两端弦的角度坐标:α<sub>11</sub>,α<sub>12</sub>,α<sub>21</sub>,α<sub>22</sub>;(6)将步骤(3)得出的&lt;δ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>1</sub>)δ<sub>n,i</sub>(ρ<sub>2</sub>)&gt;代入平均误差功率表达式中,并将被积函数用积分变量表达,然后通过四重数值积分得到单块面板平均误差功率;(7)将所有面板在远场的平均误差功率叠加,所得结果与天线在理想情况下的功率求和,最终得到含有表面加工误差的整个天线在远场的平均功率方向图。
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