发明名称 TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法
摘要 一种TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法,包括以下步骤:采用开关电源以周期T对所述TFT-LCD屏幕供电和断电;其中,周期T为8-12秒;检测所述TFT-LCD屏幕经过开关电源开关冲击测试后是否正常,若是,则在常温下采用所述开关电源对所述TFT-LCD屏幕连续供电;将连续供电中的TFT-LCD屏幕置于预设温度及预设湿度的环境中测试,达到测试时间阈值后关闭开关电源;检测进行湿热测试后的TFT-LCD屏幕是否正常,若是,则将所述TFT-LCD屏幕在常温下进行冷却,并对冷却后的TFT-LCD屏幕进行检测及记录检测结果。从而能够快速测试出TFT-LCD屏幕在经过长期使用后是否会出现亮线缺陷,进而达到测试TFT-LCD屏幕的目的。
申请公布号 CN104062777A 申请公布日期 2014.09.24
申请号 CN201310096550.3 申请日期 2013.03.22
申请人 深圳市海洋王照明工程有限公司;海洋王照明科技股份有限公司 发明人 周明杰;王永清
分类号 G02F1/13(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 何平
主权项 一种TFT‑LCD屏幕亮线缺陷测试方法,包括以下步骤:采用开关电源以周期T对所述TFT‑LCD屏幕供电和断电;其中,周期T为8‑12秒;检测所述TFT‑LCD屏幕经过开关电源开关冲击测试后是否正常,若是,则在常温下采用所述开关电源对所述TFT‑LCD屏幕连续供电;将连续供电中的TFT‑LCD屏幕置于预设温度及预设湿度的环境中测试,达到测试时间阈值后关闭开关电源;检测进行湿热测试后的TFT‑LCD屏幕是否正常,若是,则将所述TFT‑LCD屏幕在常温下进行冷却,并对冷却后的TFT‑LCD屏幕进行检测及记录检测结果。
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