发明名称 一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法
摘要 本发明公开了一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法,用局部度量欧氏距离ED、余弦角CA和整体度量光谱信息散度SID的值,进行归一化处理后计算表达式(ED×SID)/CA的值,人工确定阈值之后提出表达式(ED×SID)/CA位于阈值上方的光谱点,完成异常光谱的剔除。还可以在二维平面上以阈值为纵坐标,确定一个阈值线,在以光谱编号和表达式(ED×SID)/CA的值建立的二维平面散点图上剔除阈值线之上的光谱点,完成异常光谱的剔除。本发明加入光谱信息散度SID可定量表征光谱整体相似性。从光谱局部与整体性区分其与标准光谱集之间的差异,弥补了传统利用距离、角度度量不能区分光谱整体相似性的问题。
申请公布号 CN104062008A 申请公布日期 2014.09.24
申请号 CN201410264087.3 申请日期 2014.06.13
申请人 武汉理工大学 发明人 詹云军;苏余斌;黄解军;余晨;邓安鑫;朱捷缘
分类号 G01J3/28(2006.01)I 主分类号 G01J3/28(2006.01)I
代理机构 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人 潘杰
主权项 一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1),对实测光谱曲线进行预处理;步骤2),计算经预处理的实测光谱曲线与标准光谱集平均光谱之间的局部度量和整体度量,并将计算结果归一化到0‑1之间,所述局部度量包括欧氏距离ED和余弦角CA,所述整体度量包括光谱信息散度SID;步骤3),依据上述经归一化到0‑1之间的欧氏距离ED、余弦角CA和光谱信息散度SID的值,计算表达式(ED×SID)/CA的值;步骤4),设定异常光谱阈值,表达式(ED×SID)/CA的值中位于所述异常光谱阈值之上的点即为异常光谱。
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