发明名称 针对短路测试集成电路封装
摘要 可以针对短路和连续性以并行方式测试具有引脚阵列的电子封装。引脚阵列被分配为四组或者更多引脚组,使得每个组中的每个引脚都不与其自身引脚组中的引脚相邻。针对连续性测试一个引脚组,同时在其它引脚组中的全部引脚上设置基准电压电平。将单独的电流源耦合到每个引脚,并且测量结果电压。当第一组中一个引脚上的结果电压近似等于基准电压时,可以检测第一组中的一个引脚和其它组的一个组中的引脚之间的短路。按组重复进行测试直至全部组都被测试。
申请公布号 CN104062534A 申请公布日期 2014.09.24
申请号 CN201410108073.2 申请日期 2014.03.21
申请人 德克萨斯仪器股份有限公司 发明人 H·S·谢;C·P·黄
分类号 G01R31/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/02(2006.01)I
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人 赵蓉民
主权项 一种用于针对短路测试具有引脚阵列的电子封装的方法,该方法包括:将所述引脚阵列的至少一部分分配为四组或者更多引脚组,使得每个组中的每个引脚与其自身引脚组中的引脚不相邻;针对到封装内的对应的电气部件的连续性并行地测试第一引脚组中的全部引脚,同时在其它引脚组的全部引脚上设置基准电压电平,其中,通过将单独的电流源连接到所述第一组中的每个引脚并且测量所述引脚上的结果电压来针对连续性测试所述第一组中的每个引脚;以及当所述第一组中的一个引脚上的结果电压近似等于所述基准电压电平时,确定所述第一组中的一个引脚和其它组中的一组中的引脚之间存在短路。
地址 美国德克萨斯州
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