发明名称 一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法
摘要 一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法,它涉及一种光学装置及光学测量方法,具体涉及一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置及光学测量方法。本发明为了解决目前还没有一种能够直观的观察、分析、储存接触区域真实接触面积的光学观测装置及光学测量方法的问题。本发明所述方法的具体步骤为将接触样本安装在所述夹具组件上;通过USB数据线将工业相机与计算机连接;缓慢施加压力,直至接触样本轻微接触;调整二维手动滑台使接触区域位于图像中心位置;接触力值保持20秒后保存图像,同时记录接触力值和同业相机显微镜头的放大倍数;利用图像处理程序,计算接触区域的真实接触面积。本发明用于电接触领域。
申请公布号 CN104061881A 申请公布日期 2014.09.24
申请号 CN201410330892.1 申请日期 2014.07.11
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 任万滨;常成;韦建民;刘程焕;陈宇
分类号 G01B11/28(2006.01)I 主分类号 G01B11/28(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 牟永林
主权项 一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置,其特征在于:所述一种用于观测分析触点真实接触面积的光学装置包括手动加载机构和图像采集系统,并排设置在工作平台上,所述手动加载机构包括样本压板(1)、上支撑板(2)、移动轴(5)、固定轴承套(6)、微型力传感器(7)、传感器支架(8)、升降机构、夹具组件、底板(16)、弹簧(21)、两根导轨(3)和两个支柱(4),样本压板(1)安装在上支撑板(2)上表面的中部,上支撑板(2)、底板(16)由上至下依次设置,上支撑板(2)的下表面通过两个支柱(4)与底板(16)的上表面连接,两根导轨(3)竖直设置在上支撑板(2)与底板(16)之间,每根导轨(3)的上端与上支撑板(2)的下表面固定连接,所述升降机构安装在两根导轨(3)的下端,微型力传感器(7)通过传感器支架(8)安装在所述升降机构上,且微型力传感器(7)位于上支撑板(2)下表面与所述升降机构之间,移动轴(5)的下端插装在微型传感器(7)上,所述夹具组件、弹簧(21)、固定轴承套(6)由上至下依次套装在移动轴(5)上,且所述夹具组件位于样本压板(1)的正下方。
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