发明名称 一种双面半导体器件的QFN封装结构及方法
摘要 本发明公开了一种双面半导体器件的QFN封装结构,包括芯片及与其对接的框架,所述芯片在其与框架的接触面的侧边缘设有宽槽,在宽槽表面覆盖有玻璃钝化层;所述框架在其与芯片宽槽的内边对应的位置开有一定宽度的溢流槽;芯片和框架通过导电胶粘合,过量的导电胶置于溢流槽中。本发明还公开了一种双面半导体器件的QFN封装方法。本发明在芯片上设置宽槽结构,在框架上设置溢流槽结构,导电胶在溢料时会流入溢流槽,有效的防止了导电胶溢料时的短路问题;本发明的导电胶选择型号为京瓷2815A,在双面半导体器件为功率器件时,也能满足瞬时大电流的特殊工作状态需要。
申请公布号 CN104064533A 申请公布日期 2014.09.24
申请号 CN201410315879.9 申请日期 2014.07.03
申请人 江苏东光微电子股份有限公司 发明人 倪侠
分类号 H01L23/31(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I 主分类号 H01L23/31(2006.01)I
代理机构 南京天华专利代理有限责任公司 32218 代理人 夏平
主权项 一种双面半导体器件的QFN封装结构,包括芯片及与其对接的框架,其特征在于所述芯片在其与框架的接触面的侧边缘设有宽槽,在宽槽表面覆盖有玻璃钝化层;所述框架在其与芯片宽槽的内边对应的位置开有一定宽度的溢流槽;芯片和框架通过导电胶粘合,过量的导电胶置于溢流槽中。
地址 214205 江苏省无锡市宜兴新街百合工业园