Procedimiento y dispositivo de evaluación para determinar la ubicación de una estructura que se encuentra en un objeto a examinar mediante tomografía computarizada de rayos X

摘要

Procedimiento para determinar la ubicación de una estructura anular que se encuentra en un objeto a examinar mediante tomografía computarizada de rayos X, que comprende las etapas: - proporcionar un conjunto de datos de volumen determinado mediante tomografía computarizada de rayos X del objeto (5) a examinar, - definir varios planos de sección (S1 a Sn) a través de la estructura (20) que se encuentra en el objeto (5) y que se va a determinar con respecto a su ubicación espacial, - determinar en cada caso conjuntos de datos de intersección a partir del conjunto de datos de volumen que reproducen el objeto (5) en el respectivo plano de corte (S1), - evaluar los respectivos conjuntos de datos de intersección de la siguiente manera: - binarizar el conjunto de datos de intersección para formar un conjunto de datos binarios, - determinar los vóxeles de estructura (s) que reproducen la estructura (20) en el conjunto de datos binarios, - determinar los vóxeles de superficie (f) que reproducen una superficie de objeto del objeto (5) en el conjunto de datos binarios, - determinar un conjunto de datos de distancia (A) de modo que a cada vóxel de distancia (a) del conjunto de datos de distancia (A) se asigna un valor de distancia (w) que caracteriza la menor distancia del respectivo vóxel de distancia (a) con respecto a los vóxeles de superficie (f), - determinar los vóxeles de distancia (a) correspondientes a los vóxeles de estructura (s) en el conjunto de datos de distancia (A), y - evaluar los valores de distancia (w) de los vóxeles de distancia (a) correspondientes a los vóxeles de estructura (s).