发明名称 |
基板处理装置、基板处理条件检讨方法 |
摘要 |
本发明系提供不需要检讨基板处理条件的时间之基板处理装置。;在基板处理装置10,对1批份的晶圆W施行RIE(反应性离子蚀刻)处理期间,进行条件检讨时,系统控制器EC89设定条件A,当作对1批份的晶圆W施行的RIE处理之条件,且使第1处理单元25的条件缓冲功能无效(步骤801),对晶圆W执行配合条件A之RIE处理(步骤803),条件A不适合当作RIE处理条件时(在步骤805为NO),配合条件A之修正输入而修正条件A,且在第1处理单元25展开该修正后的条件A(步骤808),对下一晶圆W执行配合修正后的条件A之RIE处理。 |
申请公布号 |
TWI453787 |
申请公布日期 |
2014.09.21 |
申请号 |
TW096107857 |
申请日期 |
2007.03.07 |
申请人 |
东京威力科创股份有限公司 日本 |
发明人 |
横内健;八木文子 |
分类号 |
H01L21/00;H01L21/3065;H01L21/306 |
主分类号 |
H01L21/00 |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼 |
主权项 |
一种基板处理装置,具备:基板处理单元,系对基板施行处理;及禁止部,系于对预定片数的基板施行前述处理期间,禁止前述处理的处理条件变更;其特征为:具备:解除部,系于前述预定片数的基板处理期间,解除禁止前述处理条件变更;及修正部,系修正前述处理条件;具备搬入禁止部,系禁止对前述基板处理单元搬入前述基板,前述修正部系于禁止对前述基板处理单元搬入前述基板时,修正前述处理条件。 |
地址 |
日本 |