发明名称 半导体装置的制造方法
摘要 本发明提供了一种半导体装置的制造方法,该方法防止杂质进入SOI基板。激发包括从氢气、氦气、或卤素气体中选择的一种或多种气体的源气体以产生离子,并且将这些离子添加到接合基板,由此在接合基板中形成了形成了易碎层。然后,透过蚀刻、抛光等,除去接合基板的表面上和其附近的区域,即从比易碎层浅的位置到其表面这一区域。接下来,在将接合基板黏贴到底部基板之后,在易碎层处分离接合基板,由此,在底部基板上形成半导体膜。在底部基板上形成半导体膜之后,利用该半导体膜形成半导体元件。
申请公布号 TWI453803 申请公布日期 2014.09.21
申请号 TW097138415 申请日期 2008.10.06
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 日本 发明人 大沼英人;饭洼阳一;山崎舜平
分类号 H01L21/265;H01L21/84;H01L21/02 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种半导体装置的制造方法,包含:透过向一半导体基板添加离子,以在该半导体基板中形成一易碎层;除去该半导体基板的一区域,该区域的范围是从比该易碎层浅的位置到该半导体基板的表面;以及将该半导体基板黏贴到一底部基板,然后,在该易碎层上分离该半导体基板,以在该底部基板上形成一半导体膜。
地址 日本