发明名称 |
离子植入装置及离子植入方法 |
摘要 |
对被处理基板进行正电荷之离子植入时,有时在被处理基板上会发生充电损害。;本发明中,为减轻正电荷离子植入时,二次电子自被处理基板放出而导致充电之情形,在与被处理基板对向之位置设置导体构件,以高频之方式使该导体构件电性接地。且亦可藉由控制赋予被处理基板之RF电力为脉冲状,减低产生于被处理基板之电场强度。 |
申请公布号 |
TWI453802 |
申请公布日期 |
2014.09.21 |
申请号 |
TW096150043 |
申请日期 |
2007.12.25 |
申请人 |
国立大学法人 东北大学 日本;东京威力科创股份有限公司 日本 |
发明人 |
大见忠弘;后藤哲也;寺本章伸;松冈孝明 |
分类号 |
H01L21/265;H01J37/317 |
主分类号 |
H01L21/265 |
代理机构 |
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代理人 |
周良谋 新竹市东大路1段118号10楼;周良吉 新竹市东大路1段118号10楼 |
主权项 |
一种离子植入装置,包含:可减压之处理室;电浆激发机构,在该处理室内激发电浆;固持台,设于该处理室内,用以固持被处理基板;接地板,设于该处理室内该固持台上方与该固持台对向之位置,具有可使该电浆朝该固持台方向透射之部分;及RF电力施加机构,连接于该固持台,并设为对被固持于该固持台上之该被处理基板施加基板偏压用RF电力;且该接地板相对于该RF电力之频率电性接地。 |
地址 |
日本 |