发明名称 |
FinFET mit SiGe-Unterschicht in der Source und dem Drain |
摘要 |
Ein FinFET weist Folgendes auf: ein Substrat; eine Finnenstruktur auf dem Substrat; eine Source in der Finnenstruktur; einen Drain in der Finnenstruktur; einen Kanal in der Finnenstruktur zwischen der Source und dem Drain; eine dielektrische Gate-Schicht über dem Kanal; und ein Gate über der dielektrischen Gate-Schicht. Die Source und/oder der Drain haben eine SiGe-Unterschicht. |
申请公布号 |
DE102013105735(A1) |
申请公布日期 |
2014.09.18 |
申请号 |
DE201310105735 |
申请日期 |
2013.06.04 |
申请人 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. |
发明人 |
YU, MING-HUA;JENG, PEI-REN;LEE, TZE-LIANG |
分类号 |
H01L29/78;H01L21/336;H01L21/8234;H01L29/06;H01L29/36 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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