发明名称 FinFET mit SiGe-Unterschicht in der Source und dem Drain
摘要 Ein FinFET weist Folgendes auf: ein Substrat; eine Finnenstruktur auf dem Substrat; eine Source in der Finnenstruktur; einen Drain in der Finnenstruktur; einen Kanal in der Finnenstruktur zwischen der Source und dem Drain; eine dielektrische Gate-Schicht über dem Kanal; und ein Gate über der dielektrischen Gate-Schicht. Die Source und/oder der Drain haben eine SiGe-Unterschicht.
申请公布号 DE102013105735(A1) 申请公布日期 2014.09.18
申请号 DE201310105735 申请日期 2013.06.04
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. 发明人 YU, MING-HUA;JENG, PEI-REN;LEE, TZE-LIANG
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L21/8234;H01L29/06;H01L29/36 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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