| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Traverseneinheit (2) für eine Prüfvorrichtung (1) für Leiterplatten, wobei die Traverseneinheit (2) wenigstens eine ein Prüffeld, in dem eine zu prüfende Leiterplatte angeordnet werden kann, überspannende Traverse (9) aufweist und ausgebildet ist, um Positioniereinheiten (6) für Testfinger (8) in einer linear verfahrbaren Weise derart aufzunehmen, dass die Testfinger (8) zumindest einen Teil des Prüffelds abtasten können. Erfindungsgemäß ist die Traverseneinheit (2) ausgebildet, wenigstens zwei voneinander unabhängige Linearführungen (5) zum Führen von jeweils wenigstens einer der Positioniereinheit (6) aufzunehmen. Die Erfindung richtet sich auch auf eine Prüfvorrichtung (1) mit wenigstens einer solchen Traverseneinheit (2).</p> |
