发明名称 |
EIN VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINES SILIZIUMKARBIDSUBSTRATS FÜR EINE ELEKTRISCHE SILIZIUMKARBIDVORRICHTUNG, EIN SILIZIUMKARBIDSUBSTRAT UND EINE ELEKTRISCHE SILIZIUMKARBIDVORRICHTUNG |
摘要 |
Ein Verfahren zum Herstellen eines Siliziumkarbidsubstrats für eine elektrische Siliziumkarbidvorrichtung beinhaltet das Bereitstellen eines Siliziumkarbid-Spenderwafers, der eine Siliziumkristallfläche und eine Kohlenstoffkristallfläche enthält, und Abscheiden einer Siliziumkarbid-Epitaxieschicht auf der Siliziumkristallfläche. Weiterhin beinhaltet das Verfahren das Implantieren von Ionen mit einer vordefinierten Energiecharakteristik, um eine Implantierungszone innerhalb der Epitaxieschicht auszubilden, so dass die Ionen mit einer mittleren Tiefe innerhalb der Epitaxieschicht entsprechend einer vorgesehenen Dicke einer Epitaxieschicht des herzustellenden Siliziumkarbidsubstrats implantiert werden. Weiterhin umfasst das Verfahren das Bonden eines Akzeptorwafers auf die Epitaxieschicht, so dass die Epitaxieschicht zwischen dem Spenderwafer und dem Akzeptorwafer angeordnet ist. Weiterhin wird die Epitaxieschicht entlang der Implantierungszone geteilt, so dass ein durch den Akzeptorwafer dargestelltes Siliziumkarbidsubstrat mit einer Epitaxieschicht mit der vorgesehenen Dicke erhalten wird. |
申请公布号 |
DE102014103518(A1) |
申请公布日期 |
2014.09.18 |
申请号 |
DE201410103518 |
申请日期 |
2014.03.14 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
HECHT, CHRISTIAN;HÖCHBAUER, TOBIAS;RUPP, ROLAND;SCHULZE, HANS-JOACHIM |
分类号 |
H01L21/205;C30B25/18;C30B29/36;H01L29/04 |
主分类号 |
H01L21/205 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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