发明名称 足长测量方法及系统
摘要 本发明提供了一种足长测量方法,包括:获取足部的图像,所述获取的图像中,包含若干相互平行的刻度线,足部的径向方向与所述刻度线相交;对所述图像进行边缘增强、二值化处理,并确定感兴趣区域;在所述感兴趣区域内获得足部在径向方向上的两个端点;根据所述两个端点及所述刻度线,计算出足长值。本发明还提供一种足长测量系统。与现有技术相比,本发明图像分析模块的设置及其对足部图像的机器处理、分析、计算,使足长测量过程实现了自动化,从而减少了人工操作量。另外,刻度线的设置,使得图像的缩放比例可通过刻度线的变化反应出来;更简单地,可以根据足部长度与单位刻度之间的倍数关系,来直接确定足长。
申请公布号 CN102988052B 申请公布日期 2014.09.17
申请号 CN201110268023.7 申请日期 2011.09.09
申请人 上海银晨智能识别科技有限公司 发明人 王晓平;赵文忠;曾文斌
分类号 A61B5/107(2006.01)I 主分类号 A61B5/107(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 骆苏华
主权项 一种足长测量方法,其特征在于,包括:获取足部的图像,所述获取的图像中,包含若干相互平行的刻度线,足部的径向方向与所述刻度线相交;对所述图像进行边缘增强、二值化处理,对二值化处理后形成的二值图进行水平投影,并根据所述水平投影产生的投影图确定感兴趣区域;在所述感兴趣区域内获得足部在径向方向上的两个端点;根据所述两个端点及所述刻度线,计算出足长值。
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